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  • G04 基礎標準與通用方法 標準查詢與下載



    共找到 1735 條與 基礎標準與通用方法 相關的標準,共 116

    Microbeam analysis—Computed tomography (CT) method for micro- and nano-pore structure analysis in tight rock samples

    ICS
    71.040.40
    CCS
    G04
    發布
    2020-03-06 00:00:00.0
    實施
    2021-02-01 00:00:00.0

    Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Measurement of average grain size

    ICS
    71.040.40
    CCS
    G04
    發布
    2020-03-06 00:00:00.0
    實施
    2021-02-01 00:00:00.0

    Nanomanufacturing—Key control characteristics—Luminescent nanomaterials—Part 1:Quantum efficiency

    ICS
    71.040.50
    CCS
    G04
    發布
    2019-06-04 00:00:00.0
    實施
    2019-06-04 00:00:00.0

    Determination of the chemical state of micro-iron in silicate—Auger electron spectroscopy

    ICS
    71.040.40
    CCS
    G04
    發布
    2018-07-13 00:00:00.0
    實施
    2019-06-01 00:00:00.0

    Guide for the analysis of the printed circuit board surface contamination—Auger electron spectroscopy

    ICS
    71.040.40
    CCS
    G04
    發布
    2018-07-13 00:00:00.0
    實施
    2019-06-01 00:00:00.0

    Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Reporting of results of thin-film analysis

    ICS
    71.040.40
    CCS
    G04
    發布
    2018-06-07 00:00:00.0
    實施
    2019-05-01 00:00:00.0

    本標準給出了采用XPS對基材上薄膜的分析報告所需的最少信息量要求的說明。這些分析涉及化學組成和均勻薄膜厚度的測量,以及采用變角XPS、XPS濺射深度剖析、峰形分析和可變光子能量XPS的方式對非均勻薄膜作為深度函數的化學組成的測量。

    Surface chemical analysis.X-ray photoelectron spectroscopy.Reporting of results of thin-film analysis

    ICS
    71.040.40
    CCS
    G04
    發布
    2018-06-07
    實施
    2019-05-01

    Microbeam analysis—Transmission electron microscopy—Morphological identification method of plant viruses by transmission electron microscopy

    ICS
    71.040.40
    CCS
    G04
    發布
    2018-05-14 00:00:00.0
    實施
    2019-04-01 00:00:00.0

    Microbeam analysis—Scanning electron microscopy with energy dispersive X-ray spectrometry—Morphology and element analysis of single fine particles in ambient air

    ICS
    71.040.40
    CCS
    G04
    發布
    2018-05-14 00:00:00.0
    實施
    2019-04-01 00:00:00.0

    Microbeam analysis—Scanning electron microscopy with energy dispersive X-ray spectrosmetry—Determination of numberical concentration of inorganic fibrous particles in ambient air

    ICS
    71.040.40
    CCS
    G04
    發布
    2018-05-14 00:00:00.0
    實施
    2019-04-01 00:00:00.0

    本標準規定了使用透射電子顯微鏡對植物病毒進行形態學觀察和鑒定的步驟、質量要求及鑒定報告的發布。 本標準適用于各種類型透射電鏡對植物病毒形態的觀察和鑒定。

    Microbeam analysis.Transmission electron microscopy.Morphological identification method of plant viruses by transmission electron microscopy

    ICS
    71.040.40
    CCS
    G04
    發布
    2018-05-14
    實施
    2019-04-01

    本標準規定了利用掃描電鏡測量環境空氣中石棉等無機纖維狀顆粒計數濃度的方法。此方法同時利用X射線能譜分析技術(EDX)分析纖維狀顆粒的元素組成,并根據此數據區分石棉纖維、硫酸鈣纖維和其他無機纖維。 本標準適用于環境空氣中石棉等無機纖維狀顆粒計數濃度的測定,也適用于建筑物內空氣中石棉等無機纖維狀顆粒計數濃度的檢測。例如含石棉建筑材料拆除更換后,空氣中殘留石棉纖維狀顆粒濃度的測定。 如果檢測時未發現纖維(纖維根數為0),此時其95%置信區間上限為2.99根。如果每平方厘米樣品膜上通過1.0 m空氣,用掃描電鏡分析這張膜上1.0 mm面積,即通過被分析面積膜的空氣體積為0.010 m時,檢出限大約是300根/m纖維。 濾膜試樣上的纖維狀顆粒濃度檢測范圍大約在3根/cm~200根/cm??諝庵械臐舛戎?纖維根數/m)取決于采樣體積,可計算得出。

    Microbeam analysis.Scanning electron microscopy with energy dispersive X-ray spectrosmetry.Determination of numberical concentration of inorganic fibrous particles in ambient air

    ICS
    71.040.40
    CCS
    G04
    發布
    2018-05-14
    實施
    2019-04-01

    本標準規定了利用掃描電子顯微鏡(SEM)及能譜儀(EDS)觀測環境空氣中細粒子單顆粒形貌、定性分析元素,對環境空氣顆粒物進行分類的方法。掃描電鏡用于顆粒物的形貌觀察和粒徑測量,X射線能譜儀用于顆粒物主要元素定性分析。 本標準適用于在電子束轟擊下穩定的顆粒物分析,不適用于硝酸鹽、銨鹽等熱不穩定的顆粒物分析。

    Microbeam analysis.Scanning electron microscopy with energy dispersive X-ray spectrometry.Morphology and element analysis of single fine particles in ambient air

    ICS
    71.040.40
    CCS
    G04
    發布
    2018-05-14
    實施
    2019-04-01

    Surface chemical analysis—Data transfer format for scanning probe microscopy

    ICS
    71.040.40
    CCS
    G04
    發布
    2018-03-15 00:00:00.0
    實施
    2019-02-01 00:00:00.0

    Surface chemical analysis—Data transfer format for scanning probe microscopy

    ICS
    71.040.40
    CCS
    G04
    發布
    2018-03-15 00:00:00.0
    實施
    2019-02-01 00:00:00.0

    Nanotechnologies—Analysis of amorphous carbon, ash and volatile of carbon nanotubes—Thermogravimetry

    ICS
    71.040.50
    CCS
    G04
    發布
    2018-03-15 00:00:00.0
    實施
    2018-10-01 00:00:00.0

    Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry—Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting

    ICS
    71.040.40
    CCS
    G04
    發布
    2018-03-15 00:00:00.0
    實施
    2019-02-01 00:00:00.0

    本標準規定了通過并行接口或串行接口經由線纜、局域網、廣域網絡或其他通信線路將掃描探針顯微鏡(SPM)數據從計算機傳輸到計算機的格式。傳輸的數據采用出現在普通計算機顯示器或打印機上的那些字符進行編碼。 該格式是為SPM的數據設計的,例如掃描隧道顯微鏡(STM)、原子力顯微鏡(AFM)和使用在樣品表面上掃描的尖銳探針的相關表面分析方法。本格式涵蓋了由單通道成像、多通道成像和單點譜得到的數據,在未來版本中可擴展至二維譜成像。

    Surface chemical analysis.Data transfer format for scanning probe microscopy

    ICS
    71.040.40
    CCS
    G04
    發布
    2018-03-15
    實施
    2019-02-01

    Determination of vapor pressure of chemical products—Thermogravimetry method

    ICS
    71.040.01
    CCS
    G04
    發布
    2018-02-06 00:00:00.0
    實施
    2018-09-01 00:00:00.0

    Determination of moisture in solid chemical products-Thermogravimetry method

    ICS
    71.040.01
    CCS
    G04
    發布
    2018-02-06 00:00:00.0
    實施
    2018-09-01 00:00:00.0



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