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  • EEM?View是什么?搭載CMOS系統的熒光分光光度計有何意義?

    2020年6月24日 11:44:30 來源: 分析測試百科
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      熒光分光光度計是一種用棱鏡、衍射光柵或類似工具分離白光產生的單色光照射樣品,然后將產生的熒光發射再次分離為單色成分,并進行檢測以測量濃度和熒光物質的性質的儀器。

      近年來,LED照明和顯示設備等應用的熒光材料的小型化和細顆?;厔萑找婷黠@,與目前使用的熒光分光光度計比較來看,未來對測量的高精度需求同樣與日俱增。

      HITACHI最新開發的EEM?View熒光光譜顯微鏡將積分球與CMOS攝像頭結合在一起,產生了世界上第一個專用熒光分光光度計測量系統,該系統能夠同時獲取光譜圖像和光譜數據(圖1)。

      以熒光分光光度計發出的單色光為光源,用積分球分散光線,保證樣品均勻照射,不結塊,通過基于人工智能技術的計算算法對CMOS相機拍攝的圖像進行處理,可以分別顯示熒光成分和反射成分圖像。另外,還可以將樣本圖像細分為25個扇區,并獲取每個分區的放大圖像和光譜熒光/反射數據。常規熒光分光光度計僅限于獲取整個樣本的空間平均光譜數據,但EEM?View允許顯示反射光譜和熒光光譜,并從特定樣品子區域獲取光譜數據,深入了解樣品的部分熒光發射,并可以更高精度地表征熒光物質。

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    圖1 帶有CMOS攝像頭系統“EEM?View”的熒光分光光度計

      主要特點:

      1 在各種照明條件下(包括白光照明和單色光照明)采集樣本圖像。

      2 新開發的分析算法可以分別顯示熒光和反射圖像。

      3 圖像可細分為多達25個扇區,并為特定的子區域獲取光譜數據(熒光光譜和反射光譜)。

      主要規格:

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      分析軟件和示例應用程序

      專用的分析軟件套件可對EEM?View采集的樣品圖像和三維熒光光譜進行數據可視化和光譜分析(圖2)。從可用文件列表中選擇要查看或分析的數據集將顯示數據可視化顯示??捎玫墓庾V數據包括三維熒光光譜和由示蹤棒選擇的激發或熒光光譜??捎玫膱D像數據包括針對特定激發波長捕獲的圖像和縮略圖圖像。選擇縮略圖會彈出圖像的放大視圖??梢詫⒎糯蟮膱D像顯示器細分為5×5的子區域網格,并且可以針對各個子區域進行熒光和反射光譜的計算。選擇一個子區域會疊加該子區域的光譜數據,并顯示由跟蹤欄選擇的波長的數據列表。

      作為一個示例,圖2顯示了安裝在白光LED上方的熒光體的測量結果。在圖像和熒光光譜中可以辨別出熒光體上的亮點。

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    圖2 EEM?View Analysis窗口

      圖3示出了用于LED壁掛式照明的熒光體涂覆的樹脂片的說明性測量。在這個例子中,我們描述了熒光體中的聚集和分散狀態。用單色光在360-640nm范圍內獲得樣品的熒光特性。在EEM?視圖模式下,還為每組輻照條件采集樣本圖像。我們獲得了白光照明下熒光涂層樹脂板的圖像,并應用一種計算算法來產生反射和熒光成分的分離圖像。熒光成分的分離圖像允許觀察涂層的狀態,同時觀察反射光譜和熒光光譜。

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    圖3通過計算算法獲得的薄片圖像和光譜。

      圖4為示例,其中涂層狀態因區域而異。在分離的熒光成分圖像中可見涂料的團聚。另外,為圖像的單個子區域計算的熒光光譜可用于表征熒光強度的波動。在這種情況下,團塊樣本圖像在圖像中心附近顯示出高亮度。光譜數據證實了這一點,光譜數據表明峰強度增加了約15%。

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    圖4熒光涂層樹脂片在捕獲圖像和計算光譜中的共凝塊觀察。

      結論

      EEM?View可安裝在日立高科技公司提供的F-7100熒光分光光度計上使用。能夠同時獲取光譜數據和CMOS相機圖像,并將其分離成熒光和反射組件,對于包括材料、藥品和食品在內的需要更高精度測量技術的廣泛產品的研發和質量控制具有重要價值。

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